精密機器において、基板にフラックスやコンタミネーション（異物）が残留すると、リーク電流やノイズの発生、絶縁不良などを引き起こすおそれがあり、製品の電気的信頼性や長期耐久性に悪影響を与えます。そのため、はんだ付け後の基板を適切に管理・検査することが重要です。
多くのフラックスには、ロジン成分や各種添加剤など、紫外線に反応して光る性質を持つ成分が含まれています。透明で見えにくいフラックス残渣も、ブラックライトを照射することで発光し、基板上の残留箇所を視覚的に確認することができます。
また、油分や洗浄不足によって残った有機系の汚れなど、一部のコンタミネーションも紫外線に反応して光る場合があります。これにより、目視では気づきにくい汚染の存在を把握する手がかりになります。
このように、ブラックライトを用いた紫外線検査は、フラックス残留や有機系コンタミネーションを簡単に可視化できるため、製造工程や検査工程で広く活用されています。短時間に確認できるため、工程内チェックや品質管理にも適しています。
注）すべてのフラックスやコンタミネーションが紫外線に反応するわけではありません。無蛍光タイプのフラックスや、塩類などのイオン性汚染物は発光しないため、目的に応じて他の検査・評価手法と組み合わせてください。
